一本有关电子故障分析的综合性
考书,书中详细论述了电子元件和电子系统的故障的分析方法。全书分三大部分共20章。第一部分介绍电子故障分析的应用,包括电子故障的原因、故障在整个产品寿命期内的分布、故障的消除、质量控制规范、产品的赔偿责任和其他相关问题。第二部分叙述分析方法,包括非破坏性方法(摄影和光学显微术、X射线和元件的X射线照相检查、红外热敏成像法、电子器件的声学微成像故障分析)和破坏性方法(金相学、化学特性的确定、电子与电气特性的测试、扫描电子显微镜和X射线分析)。第三部分介绍特殊的电子封装和元件工艺,包括焊接、印制电路部件的故障分析、导线和电缆、开关和断电器、连接技术、元件的故障分析、半导体器件、电源和高压设备。本书对电子元件和电子系统的故障类型、故障机理、查找排除故障的途径及具体步骤,特别是对工艺过程中的故障做了深入细致的介绍。此外,书中提供了大量实验数据、曲线、图片和典型案例分析,可供在实际工作中参考使用。
员及实验人员的参考用书。
作者简介:
P.L.马丁现就职于
家技术系统公司(NTS)萨克拉门托分部,任工程可靠性分析与加工处理部门主管一职,主要负责分部所有电子故障分析的事务。他丰富的经验来源于在加利福尼亚美国空军麦克莱伦基地从事了十几年不同环境下电子故障测试的工作。马丁在麦克莱伦基地协助美国空军修理部门的工艺过程开发和质量控制(包括电子设备、雷达、发动机和电子附件等);协助飞行器灾难(坠毁)研究及美国空军特别调查办公室关于承包商欺骗的调查。马丁在承包商欺骗案中以一个内行的身价给予了专业的证词,他还以美国空军赖特实验室的WL-TR-95-4004顾问的身价向美国国会议员和美国空军司令、参谋
等提出他所发现的关于空
武器系统的问题。他还撰写了《飞行器灾祸调查手册——电子部件》等书。

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