复杂数字电路板的可测试性设计是电路和器件设计领域研究的重要课题。本文介绍了通过在复杂数字电路板中设计和利用器件的边界扫描结构，提高电路板的可测试性，及通过增加边界扫描器件对非边界扫描器件的可控制性与可观测性，获得更高的故障诊断覆盖率的方法。
边界扫描技术实现了可测性设计的一次变革，但它并不能解决所有的可测性问题。边界扫描的长处在于器件引脚之间的互连测试。由于TCK速度的限制，边界扫描对于器件内部的动态故障显得无能为力。而自建内测试技术(BIST)则是针对器件功能性测试的。把BIST结构置入芯片内，结合IEEE 1149.1中可选择的RUNBIST指令可以达到高的故障覆盖率。因此，要全方位地对故障类型进行考虑，利用现有的DFT技术，混合采用传统的ICT，取长补短，才能更好地解决DFT问题，当代的ICT设备，大多也都支持边界扫描测试。
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