使用100%三维来检测缺陷。
严重降低这些产品使用的在线二维解决方案的测试覆盖率。某些系统在二维设备中增加低速三维检测,试图解决这种覆盖率问题。尽管这种方法看上去还不错,但其整体测试速度通常会下降。只有安捷伦Medalist x6000提供了高速的三维覆盖率,可以用来检测整块电路板。
员流动率高而导致的实施障碍. 由于编程知识传递的非持续性,这种人员的流动会极大地妨碍高质量程序的开发. Medalist x6000提供了一个新型开发环境,拥有多种自动编程功能,可以帮助新用户开发高质量覆盖率的程序,而所需的时间却只有过去的一半,从而有助于解决上述问题。

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