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泰克推出RFID测量和分析套件

作者:  信息来源:电子工程专辑  2007-7-7

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泰克公司(Tektronix)近日宣布为其WCA200A,RSA3300A和RSA3408A实时频谱分析仪推出最新的RFID测量和分析套件。这是专为RFID设计工程师需要而提供的测量和故障排除功能。 RFID作为无线领域的核心技术之一的吸引力正在与日俱增。随着技术的发展,相关的RFID设计已经由标签需要接触识别器才能识别的阶段逐步进入一个无需表面便能...
     泰克公司(Tektronix)近日宣布为其WCA200A,RSA3300A和RSA3408A实时频谱分析仪推出最新的RFID测量和分析套件。这是专为RFID设计工程师需要而提供的测量和故障排除功能。 

     RFID作为无线领域的核心技术之一的吸引力正在与日俱增。随着技术的发展,相关的RFID设计已经由标签需要接触识别器才能识别的阶段逐步进入一个无需表面便能识别的新阶段。类似的技术已被应用在收费站,楼房安全门报警以及生产流水线的子系统控制等日常领域。然而,这些应用环境中所共有的一个问题便是可能同时有几个询问识别器以及标签出现在同一个区域内,相互干扰的问题由此不可避免地成为设计工作所面临的一个重要限制。在这个背景下,部署多RFID系统的需求推动了防信号冲突技术的开发,例如载波侦听(LBT),跳频以及对信号负载周期的严格管理等。同时,随着数据传输率的增加,用户也需要性能更高测试设备来应对时间性能测试,例如启动/关闭,上升/下降和翻转时间。   

     泰克实时频谱分析仪专用的RFID测量和分析套件支持RFID标准ISO18000第四部分(模式1),第六部分(A,B和C类),以及电子产品编码第二代(EPCGen2)。作为WCA200A,RSA3300A和RSA3408A实时频谱分析仪的选件,该套件将帮助设计师研发更为适合的RF和调制技术以在频域和时域上获得更为符合相应规范的最佳响应。在增加了这些配件之后,还可帮助工程师们迅速地解决瞬变RF设计工作中的问题,精确验证产品设计的性能以确保产品符合相关的RFID行业标准,因而加速产品品质改善的进程同时减少产品投放市场所需的时间。   
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