吉时利集成最新C-V模块及软件的4200-SCS系统

作者：信息来源:EEPW 2007-10-26

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　　吉时利仪器|仪表公司(NYSE:KEI)，宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入 4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在 4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户否具有相关测量经验，都能使用该仪器实现专业级的C-V测量。

　　4200-CVU附带最完整的测试库，极大提高了测量效率。如果与吉时利 4200-LS-LC-12结合使用将实现更高测量效率。 4200-LS-LC-12是带有电缆和适配器的专用开关矩阵卡，通过单针探测能实现高度集成的C-V/I-V测试。4200-PROBER-KIT为可选模块，使用该模块能轻松将 4200-SCS与各种广泛使用的探头相连，最终帮助用户如I-V测试一样轻松配置和执行功能全面的C-V测试。

　　广泛的应用支持

　　通过对4200-SCS系列产品功能的进一步增强，吉时利继续保持在C-V测量领域领先地位，仅4200一种半导体测量仪器就能满足非常广泛的测量应用需求，其中涵盖了种类丰富的探测器、器件类型、制造工艺以及包括脉冲I-V在内的测量方法学。 4200-CVU及其可选模块可解决其他特征分析系统无法解决的问题，例如无法提供完整的C-V/I-V/脉冲，或者用户接口和软件库支持不足。此外，该系统灵活而强大的测试执行引擎能够十分方便地在同一测试序列中整合C-V、I-V和脉冲测试。因此，4200-SCS能够凭借其单一的、紧密集成的特征分析解决方案替代多种电路测试五金|工具。