日本开发出能测量100纳米长度的精密尺

作者：  信息来源:china.machine365.com  2006-5-21

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日本科学家近期开发出精密尺子，能测量出100纳米（一纳米为十亿分之一米）的长度，刷新了此前只能测量240纳米的尺子精确度纪录。这种尺子以硅为原料，可以作为扫描电子显微镜的部件，有望为纳米数量级的精确测量奠定基础。 该研究所打算先向国内测量仪器制造商提供新产品的样本，验证其性能，2006年后投入实际应用，继而...

日本科学家近期开发出精密尺子，能测量出100纳米（一纳米为十亿分之一米）的度，刷新了此前只能测量240纳米的尺子精确度纪录。
据日本《每日新闻》近日报道，日本产业技术综合研究所历时3年，投入约5亿日元（约合500万美元）经费，研制出了种号称世界上现有最精确的尺子。这种尺子以硅为原料，可以作为扫描电子显微镜的部件，有望为纳米数量级的精确测量奠定基础。
该研究所打算先向内测量仪器制造商提供新产品的样本，验证其性能，2006年后投入实际应用，继而在2007年研制出最小能精确测量25纳米的尺子。

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