1当今仪器仪表的特点1.1硬件功能软件化随着微电子技术的发展，微处理器的速度越来越快，价格越来越低，已被广泛应用于仪器仪表中，使得一些实时性要求很高，原本由硬件完成的功能，可以通过软件来实现。甚至许多...

摘要：在现今的电子产品开发领域中，基于FPGA的SOPC占有极其重要的地位。本文介绍了基于SOPC、嵌入生物特征的个人证件识读器设计。其中，生物特征主要以声纹特征为目标，将其嵌入到二维条形码中，再打印...

虚拟仪器技术就是利用高性能的模块化硬件，结合高效灵活的软件来完成各种测试、测量和自动化的应用。灵活高效的软件能帮助您创建完全自定义的用户界面，模块化的硬件能方便地提供全方位的系统集成，标准的软硬件平台...

摘要：设计了一套基于FPCA的通用离线开关电源硬件模拟开发平台，并对此硬件开发平台的硬件组成及工作原理进行了分析。利用此硬件开发平台对开关电源控制器进行硬件模拟，可以弥补控制芯片设计过程中软件仿真的不...

介绍了一种通用的控制系统软件的实现方法，该软件架构将复杂的控制系统所有硬件传感器经数学抽象、归类后，使用流对象统一处理，控制软件仅对流操作。所有硬件传感器后台读写用独立线程完成，线程由各自事件同步，同...

摘要：在H.264解码器中，为了能够完成高清码流的实时解码任务，本文提出了一种CABAC硬件加速器的设计方案。通过采用高效率的状态机和流水线结构，该方案可在每1~3个时钟周期内完成1bit数据的解码。...

工具包下的设计与实现。本设计采用嵌入式软处理器核MicroBlaze以及自主编写的包括实现DDS在内的多种IPCore，最大限度地实现系统的集成化。引言SoPc可编程片上系统是一种特殊的嵌入式微处理器...

摘要：介绍用硬件校正湿敏传感器非线性的电路及设计方法，指出它们的优缺点，最后给出了设计中必须注意的几个问题。关键词：湿敏电阻；非线性校正；电阻网络半导体陶瓷湿敏传感器具有较好的热稳定性和较强的抗沾污能...

光栅作为精密测量的一种工具，由于他本身具有的优点，已在精密仪器、坐标测量、精确定位、高精度精密加工等领域得到了广泛的应用［1，2］。光栅测量技术是以光栅相对移动所形成的莫尔条纹信号为基础的，对此信号进...

［摘要］介绍了一种基于MSP430F系列超低功耗单片机的温湿度检则仪，详细阐明了温湿度检测原理、软硬件的设计与实现方法。该仪器充分利用单片机自身资源，具有小型便携、高性能、低功耗、可编程等优点，可广泛...

在计算机、互联网和通信技术高速发展的同时，嵌入式系统开发技术也取得迅速发展，嵌入式技术应用范围的急剧扩大。本文介绍了一种基于ARM和FPGA，从软件到硬件完全自主开发多功能车辆总线(Multifunc...

作为半导体厂商的ROHM株式会社本次开发的摄像机图象信息处理机LSI是面向家用型的秘密机器，能够高速处理(JPEG压缩/放大)摄像图象，是作为世界上首次完全以硬件构成的产品系列开发的。这个新产品已经以...

IntellaSys公司今日宣布推出新的OnSpec™xSil269存储器控制器芯片，这是产业界第一个这样的USB2.0NAND闪存控制器，它实现了128位硬件加密安全保护。装在xSil2...

IntellaSys公司今日宣布推出新的OnSpec™xSil269存储器控制器芯片，实现了128位硬件加密安全保护。装在xSil269芯片上的硬件加密/解密功能与两级软件密码真伪鉴别功能...

IntellaSys公司今日宣布推出新的OnSpecxSil269存储器控制器芯片，这是产业界第一个这样的USB2.0NAND闪存控制器，它实现了128位硬件加密安全保护。装在xSil269芯片上的硬...

IntellaSys推出新的OnSpecxSil269存储器控制器芯片--USB2.0NAND闪存控制器，它实现了128位硬件加密安全保护。装在xSil269芯片上的硬件加密/解密功能与两级软件密码真...

IntellaSys公司日前宣布推出新的OnSpecxSil269存储器控制器芯片，这是产业界第一个这样的USB2.0NAND闪存控制器，它实现了128位硬件加密安全保护。装在xSil269芯片上的硬...

安捷伦科技公司(Agilent)日前推出业界首款基于硬件的状态TCP和应用层测试解决方案。该方案以N2X多业务测试解决方案为基础进行构建，并集成了多业务QoS验证功能。AgilentN2X现在能在统一...

引言为了满足未来无线多媒体通信需求，早在1985年国际电联就提出了第三代移动通信的概念，许多国家和地区的著名电信设备制造商先后提出了十多种无线接口建议，经过充分协商和融和，最后形成了三大主流标准，即欧...

引言卫星研制过程的不同阶段测试内容和重点各不相同，初样阶段需要对接口信号做出及时判断，正样阶段测试则强调系统的协调性和一致性，另外，不同测试场合对系统的灵活性要求也不同，研制阶段要求测试系统“大而全”...